Tiếng Việt
Phổ XRD được sử dụng để phân tích thành phần và cấu trúc tinh thể dựa trên mối quan hệ giữa góc nhiễu xạ và cường độ tín hiệu.
Dữ liệu phổ được xử lý để nhận diện các đỉnh đặc trưng, từ đó xác định các pha tinh thể trong mẫu vật. Kết quả thực nghiệm cho thấy mẫu bột ớt có đỉnh nhiễu xạ chính tại khoảng góc 22,01°, cho thấy sự hiện diện của các khoáng silicat.
Nghiên cứu cũng đề xuất hướng kết hợp giữa mô phỏng và dữ liệu thực nghiệm với các kỹ thuật học máy nhằm nâng cao khả năng phân tích và đánh giá kết quả trong lĩnh vực vật liệu học.
Thêm đánh giá của bạn
Xếp hạng
Không có bài đánh giá nào!